三離子束切割儀幾乎適用于任何材質(zhì)樣品，獲得高質(zhì)量切割截面。

　　使用離子束切割是一項(xiàng)適用于切割硬的，軟的，多孔的，熱敏感的，脆的和/或非均質(zhì)多相復(fù)合型材料，獲得高質(zhì)量切割截面，以適宜于掃描電子顯微鏡(SEM)微區(qū)分析(能譜分析EDS，波譜分析WDS，俄歇分析Auger，背散射電子衍射分析EBSD)和原子力顯微鏡(AFM)分析。

這一技術(shù)幾乎是唯一一個(gè)適用于任何材質(zhì)樣品，獲得高質(zhì)量切割截面的解決方法。使用該技術(shù)對(duì)樣品進(jìn)行處理，樣品受到形變或損傷的可能性最低，可暴露出樣品內(nèi)部真實(shí)的結(jié)構(gòu)信息。

　　徠卡EM TIC 3X在技術(shù)上超越了傳統(tǒng)的離子束拋光切割設(shè)備。它使用三離子束，并可裝配冷凍樣品臺(tái)和三樣品臺(tái)，可以高速率離子束轟擊樣品，得到寬且深的切割區(qū)域，獲得一個(gè)高質(zhì)量的平整的切割截面，幾乎適用于任何材料，整個(gè)樣品處理過程快速簡(jiǎn)便。

　　可簡(jiǎn)易準(zhǔn)確地完成將樣品安裝到載臺(tái)上以及調(diào)節(jié)與擋板相對(duì)位置的校準(zhǔn)工作

　　通過觸摸屏進(jìn)行簡(jiǎn)單操控，不需要特別的操作技巧

　　樣品處理過程可實(shí)時(shí)監(jiān)控，可以通過體視鏡或HD-TV 攝像頭觀察

　　LED 照明，便于觀察樣品和位置校準(zhǔn)內(nèi)置式，解耦合設(shè)計(jì)的真空泵系統(tǒng)，

　　提供一個(gè)無振動(dòng)的觀察視野可在制備好的平整的切割截面上可

　　再進(jìn)行襯度增強(qiáng)作用，即離子束刻蝕處理。