簡單介紹
數碼型XPR-700Z的詳細介紹
XPR-700偏光熔點測定儀 蘇
二、系統(tǒng)簡介
偏光熔點測定儀系統(tǒng)是將精密的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、尖端的計算機圖像處理技術完美地結合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產品?？梢栽陲@示屏上很方便地觀察實時動態(tài)圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
三、技術參數：
1.目鏡：
| 類> 別 | 放大倍數 | 視場（>mm） |
| 網格目鏡 | >10X | >φ18 |
| 十字目鏡 | >10X | >φ18 |
| 分劃目鏡 | >10X | >φ18 |
>
2.物鏡：
| 類> 別 | 放大倍數 | 數值孔徑（>NA） | 工作距離（>mm） | 蓋玻片厚度（>mm） |
| 物> 鏡 | >4X | >0.10 | >7.80 | >- |
| >10X | >0.25 | >4.70 | >- | |
| >25X | >0.40 | >1.75 | >0.17 | |
| >40X | >0.65 | >0.72 | >0.17 | |
| >63X | >0.85 | >0.18 | >0.17 |
3.放大倍數：>40X-630X 系統(tǒng)放大倍數：>40X-2600X。>
4.聚光鏡數值孔徑：>NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡，中心可調>
5.起偏鏡：振動方向>360°可調，帶鎖緊裝置，可移動光路>
6.檢偏鏡>:可移出光路，旋轉范圍>90°內置勃氏鏡，中心、焦距可調>
7.補償器：>λ片>(φ18mm，一級紅，光程差>551nm) λ/4片（>φ18mm, 光程差>147.3nm）>
石英楔子>(12x28mm，Ⅰ>-Ⅳ級>)
8.調焦系統(tǒng)：帶限位和調節(jié)松緊裝置的同軸粗微調，格值為>0.002mm
9.電光源：>6V/20W鹵素燈（亮度可調）
四、熱臺：>
1.顯微精密控溫儀>
在> 20X 物鏡下工作溫度可達到最高>300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設定，>30段溫度編程，循環(huán)操作，能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度，及在該段內可維持時間，升溫速率可調、精度>±0.3 ℃、記憶點讀數。>
2.顯微加熱平臺>
可以隨載物臺移動、工作區(qū)加熱面積大、透光區(qū)域可調、工作區(qū)溫度梯度低于>± 0.1
起始溫度室溫>
工作區(qū)加熱使用面積至少>1X1cm
工作區(qū)溫度梯度不超過> ± 0.1oC
透光區(qū)域> 2mm以上，可調>
顯示溫度與實際溫度誤差不超過> ± 0.2
熱臺可以隨載物臺移動>
熔點測定 溫度超過>100度時，>25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的> 20X、>40X 物鏡
五、系統(tǒng)組成
電腦型偏光熱臺（>XPR-700E）：>1、偏光顯微鏡> 2、熱臺> 3.攝像器>(CCD) 4.A/D(圖像采集>) 5、計算機>
數碼型偏光熱臺（>XPR-700Z）：>1、偏光顯微鏡> 2、熱臺> 3、數碼相機系統(tǒng)
一、用途
數碼型XPR-700Z系列偏光熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油化工、化纖、半導體工業(yè)以及藥品檢驗等部門和相關高等院校高分子等專業(yè)常用的專業(yè)實驗儀器。偏光熔點測定儀可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉化。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測，有自動P、I、D調節(jié)，及模糊手動調節(jié)功能，偏光熔點測定儀通過LED顯示溫度值及設定溫度值，儀表顯示準確、清晰、穩(wěn)定，對溫度控制可設定程序，設有“上、下”限自動報警裝置，并可隨時檢查設定的溫度數據，是新一代熔點測溫、控溫裝置。顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件。偏光顯微鏡熱臺具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機，對圖片進行編輯、保存和打印。偏光熔點測定儀是一組具有較完備功能的新型產品。
