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昆山華乃爾精密儀器有限公司

Kunshan Huanair Precision Instrument Co;Ltd

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端子截面分析儀
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昆山華乃爾精密儀器有限公司 
 
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E-mail:davytsao@huanair.com 

華南辦事處地址:中國(guó)廣東省深圳市光明區(qū)匯通路7號(hào)萬(wàn)和科技大廈A棟1205室,

商務(wù)電話:13026692008

film膜厚測(cè)試儀
【產(chǎn)品名稱】film膜厚測(cè)試儀
【所屬類別】光學(xué)膜厚測(cè)試儀
【產(chǎn)品人氣】7291
【更新日期】2017/2/22 13:13:43
詳細(xì)介紹

film膜厚測(cè)試儀

 

應(yīng)用介紹

本film膜厚測(cè)試儀應(yīng)用在透明及半透明材料的厚度或涂層的測(cè)量,包括半導(dǎo)體鍍膜,光刻膠,玻璃減反膜測(cè)量,藍(lán)寶石鍍膜,ITO玻璃,太陽(yáng)能鍍膜玻璃,各種襯底上的膜厚,膜的顏色測(cè)量,卷對(duì)卷柔性涂布,其他需要測(cè)量膜厚的場(chǎng)合等,無(wú)論有無(wú)底材或者底材是何種材料均無(wú)影響。應(yīng)用在精密半導(dǎo)體wafer,ITO玻璃,fpc或pcb膜厚,材料表面光學(xué)鍍膜,電鍍陽(yáng)極處理,UV膠厚等領(lǐng)域。

 

系統(tǒng)結(jié)構(gòu):

產(chǎn)品型號(hào)

A3-ST-100

A3-SR-100

A3-ST-200

A3-SR-200

A3-ST-300

A3-SR-300

 

產(chǎn)品尺寸

 

W270*D217*H90

測(cè)試支架

(可根據(jù)客戶需求調(diào)整)

W270*D217*H90

測(cè)試支架

(可根據(jù)客戶需求調(diào)整)

W270*D217*(H90+H140)

測(cè)試支架

(可根據(jù)客戶需求調(diào)整)

W270*D217*(H90+H140)

測(cè)試支架

(可根據(jù)客戶需求調(diào)整)

W270*D217*H90

測(cè)試支架

(可根據(jù)客戶需求調(diào)整)

W270*D217*H90

測(cè)試支架

(可根據(jù)客戶需求調(diào)整)

測(cè)試方式

可見(jiàn)光(VIS )

透射(T)

可見(jiàn)光VIS

反射(R)

紫外+可見(jiàn)UV+VIS

透射(T)

紫外+可見(jiàn)+UV+VIS

反射(R)

IR

透射(T)

IR

反射(R)

波長(zhǎng)范圍

380 - 780 nm

380 - 780 nm

250 - 1000 nm

250 - 1000 nm

900 - 1200 nm

900 - 1200 nm

光源

鎢鹵素?zé)?/p>

鎢鹵素?zé)?/p>

鎢鹵素?zé)?氘燈

鎢鹵素?zé)?氘燈

鎢鹵素?zé)?/p>

鎢鹵素?zé)?/p>

光路和傳感器

光纖式(FILBER )+進(jìn)口光譜儀

入射角

0 度 (垂直入射)  (0 DEGREE)

參考光樣品

硅片

光斑大小

LIGHT SPOT

About 1 mm(標(biāo)配,可以根據(jù)用戶要求配置)

樣品大小

SAMPLE SIZE

10 mm TO 300 mm (可以根據(jù)用戶要求配置)


光學(xué)測(cè)量技術(shù)參數(shù)(OPTICAL SPECIFICATION)

測(cè)試方式

反射, 透射

透射準(zhǔn)確性

Transmission Accuracy

1%

反射準(zhǔn)確性

Reflaction Accuracy

1%

精度


0.1%


膜厚測(cè)量性能指標(biāo)(THICKNESS SPECIFICATION):

產(chǎn)品型號(hào)

A3-SR-100

A3-SR-200

A3-SR-300

厚度測(cè)量1

Thickness

15 nm - 100 um

 

2nm - 200 um

500nm-1000um

折射率1(厚度要求)

N

100 nm 以上

50nm and up

 ---------------

準(zhǔn)確性2

Accuracy

 2 nm 或0. 5%

精度3

precision

0.1 nm

1、表內(nèi)為典型數(shù)值, 實(shí)際上材料和待測(cè)結(jié)構(gòu)也會(huì)影響性能

2、使用硅片上的二氧化硅測(cè)量,實(shí)際上材料和待測(cè)結(jié)構(gòu)也會(huì)影響性能

3、使用硅片上的二氧化硅(500納米)測(cè)量30次得出的1階標(biāo)準(zhǔn)均方差,每次測(cè)量小于1秒.

軟件(SOFTWARE):

檢測(cè)項(xiàng)目

標(biāo)準(zhǔn)型

層數(shù)

10 層

材料

表格型和函數(shù)型

粗糙度模型

反射/透射

反射型+透射型

材料庫(kù)

表格型+函數(shù)型

入射角

垂直入射

折射率測(cè)量

 

售后服務(wù)(GARANTEE AND ASERVICE):

 基本服務(wù)

1年免費(fèi)軟件升級(jí)

1年材料庫(kù)更新

1年免費(fèi)失效零件更換(燈泡,光纖,硅片除外)

下一個(gè):熔深測(cè)試儀WAM4000
端子截面分析儀
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